Универсальный исследовательский рентгеновский дифрактометр ДРОН-8 (8Н)

Рентгеновские дифрактометры модели ДРОН-8, ДРОН-8Н являются одними из самых популярных моделей компании "Буревестник". Эти приборы можно назвать универсальными "рабочими лошадками". Дифрактометры построены по стандартной схеме с вертикальным гониометром, образец располагается в горизонтальной плоскости.

Конструкторы дифрактометров ДРОН постоянно улучшают и совершенствуют свои приборы. В последних моделях 8-ой серии используются позиционно чувствительные детекторы ведущего мирового производителя детекторов рентгеновского излучения компании DECTRIS. Системы быстрой регистрации Mythen 2R1D и Mythen 2R1K являются передовыми в отрасли и превосходят японских и европейских конкурентов.

Кроме этого уже давно покупателю предлагаются на выбор рентгеновские трубки как российского производства так и европейского. К примеру клиент может выбрать вместо медного (Cu) анода хром (Cr) , молибден (Mo) или какой то более экзотический материал. Кроме этого трубка может быть как остро фокусной так и стандартной.

Применение дифрактометров

В порошковой дифрактометрии в геометриях Брэгга-Брентано

• Качественный и количественный фазовый анализ поликристаллических материалов и объектов в том числе покрытий и тонких пленок.
• Определение степени кристалличности, размеров кристаллитов и микродеформаций решетки дисперсных материалов.
• Определение типа и метрики кристаллической решетки, анализ структуры поликристаллов.
• Исследование фазовых переходов, химических реакций и термических деформаций кристаллической решетки при изменении внешних условий (температуры, давления, влажности, газовой среды, вакуума).

Анализ остаточных напряжений

• Определение преимущественной ориентации частиц в металлах и других поликристаллических материалах и объектах.
• Определение линейных, плоскостных и объемных остаточных напряжений в сварных швах, деталях и конструкциях.
• Определение ориентации монокристаллов и различных изделий из них.

Анализ структуры и качества тонких пленок

• Определение состава, толщины, рассогласования и дефектов слоев в тонких пленках, эпитаксиальных и наногетероструктурах.
• Контроль качества материалов для микро- и наноэлектроники.

Исследование структуры нанообъектов

• Определение формы, размера, фазового состава, внутренней структуры, ориентации и распределения наноразмерных элементов в поверхностно-активных веществах, эмульсиях (в.т.ч. в биологических средах), волокнах, катализаторах, полимерах, нанокомпозитах, жидких кристаллах и других дисперсных системах.

Дифрактометры серии "ДРОН" являются многофункциональными приборами в которых применяются различные рентгенооптические схемы для фазового анализа, исследование кристаллической решетки, изучения нанообъектов.

Примеры рентенооптических схем и их отображение в дифрактограммах.

Схема Дебая-Шеррера, скользящего пучка и параллельно-лучевого

Схема для определения ориентации монокристаллов

Схема для монокристаллов в высоком разрешении

Схема при малоугловом рассеянии и рефлектометрии