Настольный рентгеновский порошковый дифрактометр Дифрей-401к

Компактный рентгеновский дифрактометр с большим возможностями

Дифрактометр Дифрей-401к особенности:

• Геометрия Брегга-Брентано и Дебая-Шеррера
• Высокоскоростной позиционно-чувствительный детектор
• Автономное водяное охлаждение
• Компактный дизайн
• Высоконадежные рентгеновская трубка и детектор с повышенными сроками эксплуатации
• Уже в стандартной комплектации база данных на 280 000 соединений
• Профессиональное аналитическое программное обеспечение

Дифрей-401к — это настольный рентгеновский дифрактометр, который может выполнять широкий круг аналитических, прикладных и научно-исследовательских задач. Основные возможности прибора – качественный и количественный анализ фазового состава порошковых проб, пластин, монокристаллов, работа с микрообъектами, автоматизированные виды анализа.

В рентгеновском дифрактометре Дифрей-401к используется линейный позиционно-чувствительный газонаполненный детектор, который позволяет получать качественную дифракционную картину за несколько минут. Большой диапазон одновременной регистрации спектра (43 градуса) позволяет решать некоторые аналитические задачи без изменения положения детектора и рентгеновской трубки.

Для получения полной дифракционной картины (от 0 до 154 градусов) измерения производятся в нескольких интервалах углов с последующей программной сшивкой полученных спектров.

Перемещения детектора и источника рентгеновского излучения производятся как вручную, с шагом 2,5 градуса (базовая комплектация дифрактометра), так и в режиме автоматического сканирования с шагом от 0,01 градуса (расширенная комплектация).

Все компоненты рентгеновского дифрактометра Дифрей-401к отличаются высокой надежностью и не требуют замены в течение всего срока эксплуатации прибора. Это значительно снижает затраты на обслуживание дифрактометра и экономит ваш бюджет.

                                                ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Универсальная приставка для дифрактометра
	Универсальная приставка предназначена для анализа порошков, микрообъектов и проволок.   В приставке реализовано автоматическое перемещение образца в вертикальной и горизонтальной плоскости, что позволяет выбрать точку анализа на проводнике, микрообразце, или последовательно проанализировать две порошковые пробы, помещенные в кюветы. Минимальный размер исследуемых образцов по каждому измерению — 0,1 мм. Максимальный размер исследуемых образцов по каждому измерению — 20 мм. В процессе измерения проба вращается. Кюветы, используемые для анализа порошков, имеют следующие типоразмеры (глубина/диаметр, мм): 0,5×10; 1×10; 2×10; 0,5×5; 1×5. Цанговые держатели для проводников, проволок и микрообъектов имеют следующие типоразмеры (диаметр, мм): 0,5; 1,6; 2,5; 3,5.
Автосемплер (автоматический столик) для настольного дифрактометра
	Автоматический столик позволяет устанавливать до 6 кювет или держателей для проведения анализа в автоматическом режиме. В процессе измерения проба вращается.   Этот режим удобен для анализа однотипных материалов, анализируемых по созданным для них программам. Кюветы, используемые для анализа порошков, имеют следующие типоразмеры (глубина/диаметр, мм): 0,5×10; 1х10; 2х10; 0,5х5; 1х5. Держатели предназначены для установки твердых образцов с плоской поверхностью диаметром до 20 мм и толщиной до 5 мм.
Приставкой для анализа монокристаллов для рентгеновского дифрактометра
	Приставка позволяет в автоматическом режиме определять направление и величину разориентациии монокристаллов, а также осуществлять контроль соответствия ориентации базового среза кристаллографическому направлению.   Помимо анализа монокристаллов приставка также позволяет анализировать порошковые образцы и пластины. Диапазон азимутальных поворотов в плоскости образца (угол ϕ): 0…360° (шаг 0.005°). Перемещение источника рентгеновского излучения осуществляется автоматически в диапазоне углов от 0 до 90° (шаг 0,001°).
Текстурная приставка для дифрактометра
	Приставка позволяет в автоматическом режиме проводить процесс измерения (сканирование по углу θ, ϕ и χ) любых объектов (пластин, порошков, массивных объектов и т.д.).   Диапазон азимутальных поворотов в плоскости образца (угол ϕ): 0…360° (шаг 0.001°). Наклон образца в его плоскости (угол χ): -60…90° (шаг 0.001°). Перемещение источника рентгеновского излучения осуществляется автоматически в диапазоне углов от 0 до 90° (шаг 0,001°).