Сканирующие электронные микроскопы

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — это научный прибор позволяющий решать различные задачи. 

СЭМ позволяет четко наблюдать очень мелкие поверхностные структуры, что невозможно с оптическим микроскопом. Более того, поскольку он может давать изображения с большей глубиной фокусировки, он позволяет наблюдать трехмерные изображения, как если бы мы смотрели на вещество невооруженным глазом, за счет увеличения поверхности образца, имеющей шероховатую структуру.

СЭМ использует электроны для отображения увеличенного изображения образца так же, как и в просвечивающем электронном микроскопе (далее «ПЭМ»). Поскольку электрон имеет более короткую длину волны, чем свет, он позволяет нам наблюдать меньшие вещи, чем можно увидеть с помощью ОМ. Слово «разрешение» относится к наименьшему размеру, который можно четко наблюдать (кратчайшее расстояние между двумя соседними точками… считается, что разрешение человеческого глаза составляет 0,2 мм). Разрешение ПЭМ составляет от 0,1 до 0,3 нм, а разрешение CЭМ — от 0,5 до 4 нм. Причина, по которой разрешение CЭМ ниже, чем у ПЭМ, связана с тем, что длина волны электронов становится больше, поскольку ускоряющее напряжение электронов, используемое в СЭМ, составляет от нескольких кВ до нескольких десятков кВ. в том время как у ПЭМ ускоряющее напряжении может достигать нескольких сотен кВ.